第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-8100HP 模擬IC測試系統 (Cable-Mount)

常規 DC、AC 參數測試、分立元件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測試 主要測試:電源管理類,馬達驅動類,音訊放大器、高速光耦、運算放大器、小功率分立裝置等



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴展

型號 QT-8100HP
產品優勢 • 20 個類比插槽(Max 216通道)/ 2 個數位插槽( Max 32通道)
• 懸浮V/I源,四象限
• 由測試盒引出全資源,8site並測
• 數位速率100Mhz,向量深度8M
• 真並測,多路1000V/20A高壓大電流
• 18 bit 高精密採樣
• 多通道高精度時間測量單元,支援ns等級時間測量
• PCIE 卡測試效率更高