QT-4100 綜合測試系統
適用於三極管、二極體、齊納二極體、MOS-FET（IGBT、SIC 氮化鎵）、J-FET、Current Sense FET、LDO（78XX、79XX、TL431、TL432常規測試）、光電耦合器等產品及晶 圓。 可擴充：可控矽測試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開關時間（TST， TR ，TF， TON）、熱阻測試（DVDS， DVCE， DVBE，DVF）等
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限壓限流 |
高精度Rdon測試 |
模組化功能 |
多站資料合併 |
| 型號 | QT-4100 綜合測試系統 |
| 產品優勢 |
测量防呆：电压、电流测量自动自检，异常自动报警停机測量防呆：電壓、電流測量自動自我檢測，異常自動警報停機 LOW RDON 快速自我檢測：無需外接負載，2分鐘完成自我檢測 第三人校準：採用Agilent 34401A進行校準 內建示波器功能 支援多工位設備數據合併 |
| 主要特點 |
• 繼電器3ms； • 限壓限流保護； • 支援擴展EAS，LCR，熱阻，SW，TRR，QG； • 填表式程式設計； • 支援PAT功能； • 具備SECS/GEM標準介面 |
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中國廣東省佛山市南海國家高新區新光源產業基地光明大道16號 |
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+86 757 83207313 (銷售) |
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+86 757 83208786 (銷售) |
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