QT-4100 綜合測試系統
適用於SiC /Si MOSFET、IGBT、二極體、三極管、可控矽、固態放電管、三端穩壓、光耦等電性參數測試。 提供整套成熟測試方案，全面支持DC、EAS、RGCG、熱阻、SW開關特性、短路、TRR、QG等動靜態參數測試。 可實現多工站測試數據合併。
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限壓限流 |
高精度Rdon測試 |
模組化功能 |
多站資料合併 |
| 型號 | QT-4100 綜合測試系統 |
| 產品優勢 |
一鍵校準，開批自檢防呆 Low RDON最低測試0.2mR 限壓限流保護 填表式制程 支持擴展EAS，LCR，熱阻， SW，TRR，QG 支持PAT功能 具備SECS/GEM標準介面 |
| 主要特點 |
滿足SiC Mos/IGBT全參數測試流程，支持100%線上QA DC規格：2kV 200A，擴展8kV 2kA AC規格：1500V 600A短路3000A雜散Ls<30nH，保護<300ns 國內首家實現多工位合併數據，同時支持測試工位合併 行業內公認的標準測試解決方案 |
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