KGD（Known Good Die）測試解決方案
支援高溫常溫測試：DC+SW+UIL+DC&RG； 支援測試針卡保護方案； 提供測試+分選整套方案；
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針卡保護 |
兩顆並測 |
高溫常溫 |
數據合併 |
| 型號 | KGD測試解決方案 |
| 產品優勢 |
• 低雜散解決方案； • 獨家針卡保護專利技術； • 過載欠壓保護； • 一次測試兩顆晶片； • 支援高溫加熱 |
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中國廣東省佛山市南海國家高新區新光源產業基地光明大道16號 |
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