


KGD(Known Good Die)測試解決方案
支持高溫常溫測試:DC+SW+UIL+RG&QA; 提供測試機+轉塔/平移分選機搭配方案; 短路保護+自研探針
針卡保護 |
兩顆並測 |
高溫常溫 |
數據合併 |
型號 | KGD測試解決方案 |
產品優勢 |
低雜散解決方案 短路保護:短路關斷時間低於300nS 定制socket,適配不同Handler方案 特殊探針資料,短路測試不燒熔不沾异物 支持工位合併 支持測試機+轉塔方案,測試效率高 |
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