第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
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分類
QT-3101 UIL 雪崩測試

QT-3101 UIL 雪崩測試適用於測試MOSFET、IGBT、二極體的雪崩參數



支援雙DIE

快速充電

失效波形保存

鉗壓功能

型號 QT-3101 UIL
產品優勢 支援VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I)測試
內建示波器
極限能量掃描測試
可設定單脈衝、多重脈衝或雙MOSFET測試
可與QT-4100B共用一台電腦,實現測試程式與資料統一管理
主要特點 • 輸出測量能力:最大測量BVdss:±3000V最大輸出ID:±150V 、±200A
• 可編輯VG MAX:±30V脈寬調節(解析度:1us)
• 可程式電感箱負載10μH-159.9mH步進10μH
• 可程式分選機介面訊號24個