第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-3104 QG 閘極電荷測試

QT-3104 QG滿足SiC裝置微小QG值測試



支援雙DIE

過載欠壓保護

高精度測試

支援擴充

型號 QT-3104 QG
產品優勢 滿足SiC裝置微小QG值測試
主要特點 • 測試能力:200A/150V 150A/1000V