第三代
電晶體測試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
KGD handler

全自動測試,支援SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。 多工位並行測試,不同工位支援不同溫度與測試項目。 靜態、動態、雪崩功能測試,且測試順序可調。 高溫預熱與晶片表面防氧化保護。 高溫測試,溫度範圍:室溫~200°C。 加電針卡為密封設計,支援充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監測。



懸浮電源

多Site並行

多通道高精度

支援多種擴展

型號 KGD handler
產品介紹 全自動測試,支援SiC晶圓、Waffle Pack、Tape&Reel上料與下料。
功能 • 多工位並行測試,不同工位支援不同溫度與測試項目。
• 靜態、動態、雪崩功能測試,且測試順序可調。
• 高溫預熱與晶片表面防氧化保護。
• 高溫測試,溫度範圍:室溫~200°C。
• 加電針卡為密封設計,支援充氮氣保護防高壓打火與氮氣壓力監測。