KGD(Known Good Die)测试解决方案
支持高温常温测试：DC+SW+UIL+DC&RG； 支持测试针卡保护方案； 提供测试+分选整套方案；
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针卡保护 |
两颗并测 |
高温常温 |
数据合并 |
| 型号 | KGD测试解决方案 |
| 产品优势 |
• 低杂散解决方案； • 独家针卡保护专利技术； • 过载欠压保护； • 一次测试两颗晶片； • 支援高温加热 |
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