第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
分类
QT-8600RF 混合信号射频测试系统

RF12G 测试模组,应用于大功率输出、谐波测试、开关时间、插损、隔离、S11、Ron、Coff、同端回路、IP3、杂散测试、调制解调、MIPI、IP3、P0.1dB、P1dB



悬浮电源

多Site并行

多通道高精度

支持多种扩展

型号 QT-8600RF 混合信号射频测试系统
产品优势 RF12G 测试模组,应用于大功率输出、谐波测试、开关时间、插损、隔离、S11、Ron、Coff、同端回路、IP3、杂散测试、调制解调、MIPI、IP3、P0.1dB、P1dB
主要特点

• 12GHz射频测量,数字满足MIPI 100MHz以下测试
• 支持矢量标量测试,DC、数字、RF一体化机台
• 功率高达8.5GHz&37dBm,支持2站RF并行测试,多站复合测试
• 自研算法通信,UPH最高达12Kper hour
• 为 RF开关、LNA、TUNER、滤波器、PA/FEM、Wifi6/wifi6e/wifi7等器件提供高效的测试平台