第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
分类
QT-8100HP 模拟 IC 测试系统 (Cable-Mount)

常规 DC、AC 参数测试、分立器件 Wafer 多 site 和 IC 功能性测试 主要测试:电源管理类,马达驱动类,音频放大器、高速光耦、运放、小功率分立器件等



悬浮电源

多Site并行

多通道高精度

支持多种扩展

型号 QT-8100HP
产品优势 • 20 个模拟槽位(Max 216通道)/ 2 个数字槽位( Max 32通道)
• 悬浮V/I源,四象限
• 由测试盒引出全资源,8site并测
• 数字速率100Mhz,向量深度8M
• 真并测,多路1000V/20A高压大电流
• 18 bit 高精密采样
• 多通道高精度时间测量单元,支持ns级别时间测量
• PCIE 卡,测试效率更高